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MAPAN-Journal of Metrology Society of India

MAPAN-Journal of Metrology Society of India Q4

  • 期刊收录:
  • SCIE
  • Scopus
基本信息
  • 期刊ISSN:

    0970-3950

  • 期刊简拼:

    MAPAN-J METROL SOC I

  • 年发文章数:

    98

  • E-ISSN:

    0974-9853

  • Gold OA文章占比

    3.23%

  • 研究文章占比:

    93.88%

  • 是否OA:

    No

  • Jcr分区:

    Q4

  • 中科院分区:

    4区

出版信息
  • 出版商:

    Springer India

  • 涉及研究方向:

    工程技术-物理:应用

  • 出版国家:

    INDIA

  • 出版语言:

    English

  • 出版周期:

    Quarterly

  • 出版年份:

    2009

  • 2023-2024最新影响因子:1
  • 自引率:20.00%
  • 五年影响因子:0.9
  • JCI期刊引文指标:0.23
  • h-index:13
  • CiteScore:2.30

期刊简介

MAPAN-Journal Metrology Society of India is a quarterly publication. It is exclusively devoted to Metrology (Scientific, Industrial or Legal). It has been fulfilling an important need of Metrologists and particularly of quality practitioners by publishing exclusive articles on scientific, industrial and legal metrology.

The journal publishes research communication or technical articles of current interest in measurement science; original work, tutorial or survey papers in any metrology related area; reviews and analytical studies in metrology; case studies on reliability, uncertainty in measurements; and reports and results of intercomparison and proficiency testing.

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期刊简写:MAPAN-J METROL SOC I

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期刊信息

  • 通讯地址
  • METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012
  • 中国科学院《国际期刊预警名单(试行)》名单
  • 2024年02月发布的2024版:不在预警名单中
    2023年01月发布的2023版:不在预警名单中
    2021年12月发布的2021版:不在预警名单中
    2020年12月发布的2020版:不在预警名单中
    此期刊被最新的JCR期刊SCIE收录
  • 审稿速度
  • 收录数据库
  • 是否oa
  • 研究方向
  • >12周,或约稿
  • SCIE,Scopus
  • No
  • 工程技术-物理:应用

分区信息

中科院分区
  • 大类学科
  • 分区
  • 小类学科
  • Top期刊
  • 综述期刊
  • 工程技术
  • 4区
  • INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
    仪器仪表
    PHYSICS
    APPLIED
    物理:应用
WOS分区等级:4区
  • 版本
  • 按学科
  • 分区
  • 影响因子
  • WOS期刊SCI分(2023-2024年最新版)
  • INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
    PHYSICS
    APPLIED
  • Q4
  • 1
IF值(影响因子)趋势图
年发文量趋势图
自引率趋势图
中科院分区

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