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IEEE DESIGN & TEST OF COMPUTERS Q0
- 期刊收录：
-
期刊ISSN：
0740-7475
-
期刊简拼：
IEEE DES TEST COMPUT
-
年发文章数：
41
- E-ISSN：
-
Gold OA文章占比
0.00%
-
研究文章占比：
0.00%
-
是否OA：
No
-
Jcr分区：
Q0
- 中科院分区：
- 出版商：
-
涉及研究方向：
工程技术-工程：电子与电气
-
出版国家：
UNITED STATES
- 出版语言：
-
出版周期：
Bimonthly
-
出版年份：
1984
- 2023-2024最新影响因子:0
- 自引率:N.A.
- 五年影响因子:0
- JCI期刊引文指标:0
- h-index:暂无h-index数据
- CiteScore:
期刊关键词
0区期刊简介
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期刊信息
- PubMed Central (PMC)链接
- http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0740-7475%5BISSN%5D
- 通讯地址
- IEEE COMPUTER SOC, 10662 LOS VAQUEROS CIRCLE, PO BOX 3014, LOS ALAMITOS, USA, CA, 90720-1314
- 中国科学院《国际期刊预警名单（试行）》名单
-
2024年02月发布的2024版：不在预警名单中
2023年01月发布的2023版：不在预警名单中
2021年12月发布的2021版：不在预警名单中
2020年12月发布的2020版：不在预警名单中
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- 审稿速度
- 收录数据库
- 是否oa
- 研究方向
- >12周，或约稿
- No
- 工程技术-工程：电子与电气
分区信息
中科院分区
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中科院分区
常见问题
-
SCI 期刊的投稿难度如何？
我相信各位从事科研的小伙伴，对于“SCI论文发表”都应该或多或少有一些执念。不管是对于硕士博士的毕业，还是科研人员的职称评审、课题申请、职业发展，SCI论文
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