tm-Technisches Messen Q4
- 期刊收录：
- SCIE
- Scopus
-
期刊ISSN：
0171-8096
-
期刊简拼：
TM-TECH MESS
-
年发文章数：
100
-
E-ISSN：
2196-7113
-
Gold OA文章占比
13.50%
-
研究文章占比：
92.00%
-
是否OA：
No
-
Jcr分区：
Q4
-
中科院分区：
4区
-
出版商：
Walter de Gruyter GmbH
-
涉及研究方向：
工程技术-仪器仪表
-
出版国家：
GERMANY
-
出版语言：
German
-
出版周期：
Monthly
-
出版年份：
0
- 2023-2024最新影响因子:0.8
- 自引率:25.00%
- 五年影响因子:0.6
- JCI期刊引文指标:0.2
- h-index:17
- CiteScore:1.70
期刊简介
The journal promotes dialogue between the developers of application-oriented sensors, measurement systems, and measurement methods and the manufacturers and measurement technologists who use them.
Topics
The manufacture and characteristics of new sensors for measurement technology in the industrial sector
New measurement methods
Hardware and software based processing and analysis of measurement signals to obtain measurement values
The outcomes of employing new measurement systems and methods.
《tm-Technisches Messen》期刊已被查看： 次
此期刊被最新的JCR期刊SCIE收录
期刊信息
- PubMed Central (PMC)链接
- http://www.ncbi.nlm.nih.gov/nlmcatalog?term=0171-8096%5BISSN%5D
- 通讯地址
- OLDENBOURG VERLAG, LEKTORAT MINT, POSTFACH 80 13 60, MUNICH, GERMANY, D-81613
- 中国科学院《国际期刊预警名单（试行）》名单
-
2024年02月发布的2024版：不在预警名单中
2023年01月发布的2023版：不在预警名单中
2021年12月发布的2021版：不在预警名单中
2020年12月发布的2020版：不在预警名单中
此期刊被最新的JCR期刊SCIE收录
- 审稿速度
- 收录数据库
- 是否oa
- 研究方向
- 较慢,6-12周
- SCIE,Scopus
- No
- 工程技术-仪器仪表
分区信息
- 大类学科
- 分区
- 小类学科
- Top期刊
- 综述期刊
- 工程技术
- 4区
- INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
仪器仪表 - 否
- 否
- 版本
- 按学科
- 分区
- 影响因子
- WOS期刊SCI分（2023-2024年最新版）
- INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION
- Q4
- 0.8
IF值(影响因子)趋势图
年发文量趋势图
自引率趋势图
中科院分区
常见问题
-
SCI 期刊的投稿难度如何？
我相信各位从事科研的小伙伴，对于“SCI论文发表”都应该或多或少有一些执念。不管是对于硕士博士的毕业，还是科研人员的职称评审、课题申请、职业发展，SCI论文
《tm-Technisches Messen》同类：工程技术期刊
-
IEEE JOURNAL OF QUANTUM ELECTRONICS
JCR:2区--分类：工程技术
影响因子2.2
收录SCIE,Scopus
-
IEEE INSTRUMENTATION & MEASUREMENT MAGAZINE
JCR:3区--分类：工程技术
影响因子1.6
收录SCIE,Scopus
-
IEEE TRANSACTIONS ON ENERGY CONVERSION
JCR:1区--分类：工程技术
影响因子5
收录SCIE,Scopus
-
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS
JCR:2区--分类：工程技术
影响因子4
收录SCIE,Scopus
-
IEEE TRANSACTIONS ON DIELECTRICS AND ELECTRICAL INSULATION
JCR:2区--分类：工程技术
影响因子2.9
收录SCIE,Scopus
-
IEEE JOURNAL OF OCEANIC ENGINEERING
JCR:1区--分类：工程技术
影响因子3.8
收录SCIE,Scopus
-
IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS
JCR:2区--分类：工程技术
影响因子2.3
收录SCIE,Scopus
-
IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
JCR:2区--分类：工程技术
影响因子4.1
收录SCIE,Scopus
中国全科医学发文选摘
- 上一篇： VIBRATIONAL SPECTROSCOPY
- 下一篇：TETRAHEDRON